Logi sisse et näha seda üksust teistes keeltes
Subnanometergenaue Messungen der Formabweichungen ausgedehnter, gering gekrümmter optischer Flächen für die Finish-Bearbeitung bis zu Genauigkeiten von < Lambda/1000
Looja
- Lammert, Heiner
- Siewert, Frank
- Zeschke, Thomas
- Europeana
Kirjastus
- TU Ilmenau, Ilmenau
Üksuse liik
- literature
Kuupäev
- 2005
- 2005
Looja
- Lammert, Heiner
- Siewert, Frank
- Zeschke, Thomas
- Europeana
Kirjastus
- TU Ilmenau, Ilmenau
Üksuse liik
- literature
Kuupäev
- 2005
- 2005
Pakkuja institutsioon
Agregaator
Selles üksuses sisalduva meedia õiguste avaldus (kui pole teisiti märgitud)
- http://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/3.0/
- http://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/3.0/
Õigused
- http://www.dmg-lib.org/dmglib/main/portal.jsp?mainNaviState=site.oairights
Identifikaator
- dmg:26749009
- http://www.dmg-lib.org/dmglib/handler?docum=26749009
Keel
- de
Seosed
- Ilmenau University of Technology, Germany
Aasta
- 2005
Pakkuja riik
- Europe
Kollektsiooni nimi
Esimest korda avaldati Europeana
- 2013-11-25T16:53:17.209Z
Viimati andmeid pakkuvast institutsioonist uuendatud
- 2013-11-25T16:53:17.209Z