Autentificare pentru a vedea acest resursă culturală în alte limbi
Subnanometergenaue Messungen der Formabweichungen ausgedehnter, gering gekrümmter optischer Flächen für die Finish-Bearbeitung bis zu Genauigkeiten von < Lambda/1000
Creator
- Europeana
- Lammert, Heiner
- Siewert, Frank
- Zeschke, Thomas
Editor
- TU Ilmenau, Ilmenau
Tipul resursă culturală
- literature
Dată
- 2005
- 2005
Creator
- Europeana
- Lammert, Heiner
- Siewert, Frank
- Zeschke, Thomas
Editor
- TU Ilmenau, Ilmenau
Tipul resursă culturală
- literature
Dată
- 2005
- 2005
Instituție furnizoare
Agregator
Mențiunea privind drepturile intelectuale privind drepturile intelectuale media pentru această resursă culturală (cu excepția cazului în care se specifică altfel)
- http://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/3.0/
- http://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/3.0/
Drepturi
- http://www.dmg-lib.org/dmglib/main/portal.jsp?mainNaviState=site.oairights
Identificator
- dmg:26749009
- http://www.dmg-lib.org/dmglib/handler?docum=26749009
Limbă
- de
Relaţii
- Ilmenau University of Technology, Germany
An
- 2005
Țara de proveniență
- Europe
Numele colecției
Publicat pentru prima dată pe Europeana
- 2013-11-25T16:53:17.209Z
Ultima actualizare de la instituția furnizoare
- 2013-11-25T16:53:17.209Z