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Subnanometergenaue Messungen der Formabweichungen ausgedehnter, gering gekrümmter optischer Flächen für die Finish-Bearbeitung bis zu Genauigkeiten von < Lambda/1000
Créateur
- Lammert, Heiner
- Siewert, Frank
- Zeschke, Thomas
- Europeana
Éditeur
- TU Ilmenau, Ilmenau
Type d'item
- literature
Date
- 2005
- 2005
Créateur
- Lammert, Heiner
- Siewert, Frank
- Zeschke, Thomas
- Europeana
Éditeur
- TU Ilmenau, Ilmenau
Type d'item
- literature
Date
- 2005
- 2005
Institution partenaire
Agrégateur
Licence du support dans cet enregistrement (sauf indication contraire)
- http://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/3.0/
- http://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/3.0/
Droits
- http://www.dmg-lib.org/dmglib/main/portal.jsp?mainNaviState=site.oairights
Identificateur
- dmg:26749009
- http://www.dmg-lib.org/dmglib/handler?docum=26749009
Langue
- de
Relations
- Ilmenau University of Technology, Germany
Année
- 2005
Pays fournisseur
- Europe
Nom de la collection
Première publication sur Europeana
- 2013-11-25T16:53:17.209Z
Dernière mise à jour de l'Institution partenaire
- 2013-11-25T16:53:17.209Z