Kirjaudu sisään nähdäksesi tämän aineisto muilla kielillä
Subnanometergenaue Messungen der Formabweichungen ausgedehnter, gering gekrümmter optischer Flächen für die Finish-Bearbeitung bis zu Genauigkeiten von < Lambda/1000
Luoja
- Lammert, Heiner
- Siewert, Frank
- Zeschke, Thomas
- Europeana
Julkaisija
- TU Ilmenau, Ilmenau
Aineisto tyyppi
- literature
Päivämäärä
- 2005
- 2005
Luoja
- Lammert, Heiner
- Siewert, Frank
- Zeschke, Thomas
- Europeana
Julkaisija
- TU Ilmenau, Ilmenau
Aineisto tyyppi
- literature
Päivämäärä
- 2005
- 2005
Aineiston tarjoaja
Aggregaattori
Tämän aineisto median lisenssi (ellei toisin mainita)
- http://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/3.0/
- http://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/3.0/
Oikeudet
- http://www.dmg-lib.org/dmglib/main/portal.jsp?mainNaviState=site.oairights
Tunniste
- dmg:26749009
- http://www.dmg-lib.org/dmglib/handler?docum=26749009
Kieli
- de
Suhteet
- Ilmenau University of Technology, Germany
Vuosi
- 2005
Alkuperämaa
- Europe
Kokoelman nimi
Julkaistu ensimmäistä kertaa Europeana
- 2013-11-25T16:53:17.209Z
Viimeksi päivitetty aineiston tarjoajalta
- 2013-11-25T16:53:17.209Z