Hasi saioa elementu hau beste hizkuntza batzuetan ikusteko
Subnanometergenaue Messungen der Formabweichungen ausgedehnter, gering gekrümmter optischer Flächen für die Finish-Bearbeitung bis zu Genauigkeiten von < Lambda/1000
Sortzailea
- Lammert, Heiner
- Siewert, Frank
- Zeschke, Thomas
- Europeana
Argitaletxea
- TU Ilmenau, Ilmenau
Elementu mota
- literature
Data
- 2005
- 2005
Sortzailea
- Lammert, Heiner
- Siewert, Frank
- Zeschke, Thomas
- Europeana
Argitaletxea
- TU Ilmenau, Ilmenau
Elementu mota
- literature
Data
- 2005
- 2005
Erakunde hornitzailea
Agregatzailea
Elementu honen baimenen egoera (besterik adierazi ezean)
- http://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/3.0/
- http://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/3.0/
Baimenak
- http://www.dmg-lib.org/dmglib/main/portal.jsp?mainNaviState=site.oairights
Identifikatzailea
- dmg:26749009
- http://www.dmg-lib.org/dmglib/handler?docum=26749009
Hizkuntza
- de
Loturak
- Ilmenau University of Technology, Germany
Urtea
- 2005
Herrialde hornitzailea
- Europe
Bildumaren izena
Lehenengo aldiz argitaratua Europeana-n
- 2013-11-25T16:53:17.209Z
Erakunde hornitzaileak azken aldiz eguneratu du
- 2013-11-25T16:53:17.209Z