Přihlásit se pro zobrazení této položky v jiných jazycích
Subnanometergenaue Messungen der Formabweichungen ausgedehnter, gering gekrümmter optischer Flächen für die Finish-Bearbeitung bis zu Genauigkeiten von < Lambda/1000
Tvůrce
- Lammert, Heiner
- Siewert, Frank
- Zeschke, Thomas
- Europeana
Vydavatel
- TU Ilmenau, Ilmenau
Typ položka
- literature
Datum
- 2005
- 2005
Tvůrce
- Lammert, Heiner
- Siewert, Frank
- Zeschke, Thomas
- Europeana
Vydavatel
- TU Ilmenau, Ilmenau
Typ položka
- literature
Datum
- 2005
- 2005
Poskytovatelská instituce
Agregátor
Výrok o právech tohoto položka (není-li uvedeno jinak)
- http://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/3.0/
- http://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/3.0/
Práva
- http://www.dmg-lib.org/dmglib/main/portal.jsp?mainNaviState=site.oairights
Identifikátor
- dmg:26749009
- http://www.dmg-lib.org/dmglib/handler?docum=26749009
Jazyk
- de
souvislosti
- Ilmenau University of Technology, Germany
Rok
- 2005
Země původu
- Europe
Název kolekce
Poprvé zveřejněno na Europeana
- 2013-11-25T16:53:17.209Z
Poslední aktualizace od poskytující instituce
- 2013-11-25T16:53:17.209Z